SID
模块介绍
SID 模块主要用于烧写 SoC 的 efuse。efuse 包括 ChipID、HASH 码等相关信息。该模块特点如下：
- efuse 一根熔丝只能被编程一次，并且具有一次可编程存储器的特点。
- 包含 SID_SRAM，SID_SRAM 在每次芯片上电时会备份 efuse 信息。
- SID 模块寄存器是非安全的；efuse 有安全非安全区分。
- 提供芯片唯一ID ChipID，出厂前会烧录好
- （secure enable bit ）作为 efuse 中安全开启开关，使能后，芯片会变成安全芯片
模块配置
Kernel Setup --->
Drivers Setup --->
SoC HAL Drivers --->
SID devices --->
[*] enable efuse driver
源码结构
SID 驱动位于 hal/source/efuse/ 目录下。
hal
├── source
│ ├── efuse
│ │ ├── efuse.c # SID底层驱动文件
│ │ ├── efuse.h # SID底层驱动头文件
│ │ ├── hal_efuse.c # SID公用操作接口函数文件
│ │ ├── Kconfig
│ │ ├── Makefile
│ │ ├── platform
│ │ │ ├── efuse_sun20iw2.h # 具体的平台配置头文件
│ │ └── platform_efuse.h # 平台配置头文件
└── include
└── hal
└── sunxi_hal_efuse.h # SID公用操作接口函数头文件
模块接口说明
头文件
#include <sunxi_hal_efuse.h>
efuse 写接口
将指定名字的数据写入 efuse
int hal_efuse_write(char key_name, unsigned char key_data, size_t key_bit_len)
参数：
- key_name: efuse 区域名字
- key_data: 待写入数据
- key_bit_len: 待写入数据 bit 数
返回值：
- 0：成功
- 负数：失败
efuse 读接口
读 efuse 中指定名字区域的数据
int hal_efuse_read(char key_name, unsigned char key_data, size_t key_bit_len)
参数：
- key_name: efuse 区域名字
- key_data: 待读取数据
- key_bit_len: 待读取数据 bit 数
返回值：
- 0：成功
- 负数：失败
efuse 读扩展接口
读 efuse 中指定名字区域的数据
int hal_efuse_read_ext(uint32_t start_bit, uint32_t bit_num, uint8_t *data)
参数：
- start_bit: efuse 区域名字
- bit_num: 待读取数据
- data: 存放待读取数据
返回值：
- 0：成功
- 负数：失败
开启 secure enable bit 接口
开启 secure enable bit
int hal_efuse_set_security_mode(void)
参数：
- 无
返回值：
- 0：成功
- 负数：失败
开启 efuse 中 secure enable bit 之后，芯片会变成安全芯片，此过程不可逆，开启时请额外注意。
读取 secure enable bit 状态接口
读取 secure enable bit 状态
int hal_efuse_get_security_mode(void)
参数：
- 无
返回值：
- 0：没有烧写
- 1：烧写了
读取 chipid 接口
读取 efuse 中 chipid
int hal_efuse_get_chipid(unsigned char *buffer)
参数：
- buffer: 用于存放 chipid 数据的指针
返回值：
- 0：成功
- 负数：失败
读取 thermal 校准值接口
读取 thermal sensor 校准值
int hal_efuse_get_thermal_cdata(unsigned char *buffer)
参数：
- buffer: 存放读取的数据的指针
返回值：
- 0：成功
- 负数：失败
读取芯片版本接口
读取芯片版本信息
int hal_efuse_get_chip_ver(void)
参数：
- 无
返回值：
- 正数：芯片版本号
- 负数：失败
读取 efuse sram 接口
读取 efuse sram 中数据
int hal_get_module_param_from_sid(uint32_t *dst, uint32_t offset, uint32_t len)
参数：
- dst: 存放读取的数据
- offset: 读取的偏移
- len: 读取长度（字节）
返回值：
- 0：成功
- 负数：失败
模块使用范例
#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>
#include <string.h>
#include <hal_cmd.h>
#include <sunxi_hal_efuse.h>
#undef HEXDUMP_LINE_CHR_CNT
#define HEXDUMP_LINE_CHR_CNT 16
static int sunxi_hexdump(const unsigned char *buf, int bytes)
{
unsigned char line[HEXDUMP_LINE_CHR_CNT] = {0};
int addr;
for (addr = 0; addr < bytes; addr += HEXDUMP_LINE_CHR_CNT)
{
int len = ((bytes-addr)<HEXDUMP_LINE_CHR_CNT ? (bytes-addr) : HEXDUMP_LINE_CHR_CNT);
int i;
memcpy(line, buf + addr, len);
memset(line + len, 0, HEXDUMP_LINE_CHR_CNT - len);
/* print addr */
printf("0x%.8X: ", addr);
/* print hex */
for (i = 0; i < HEXDUMP_LINE_CHR_CNT; i++)
{
if (i < len)
{
printf("%.2X ", line[i]);
}
else { printf(" "); }
}
/* print char */
printf("|");
for (i = 0; i < HEXDUMP_LINE_CHR_CNT; i++)
{
if (i < len)
{
if (line[i] >= 0x20 && line[i] <= 0x7E)
{
printf("%c", line[i]);
}
else
{
printf(".");
}
}
else
{
printf(" ");
}
}
printf("|\n");
}
return 0;
}
int cmd_test_efuse(int argc, char **argv)
{
char buffer[32] = {0};
hal_efuse_get_chipid(buffer);
sunxi_hexdump(buffer, sizeof(buffer));
printf("===================================\n");
printf("Test Finished.\n");
return 0;
}
FINSH_FUNCTION_EXPORT_CMD(cmd_test_efuse, hal_efuse, efuse hal APIs tests)